Kiesési valószínűség

A Wikipédiából, a szabad enciklopédiából
 Ez a szócikk vagy szakasz lektorálásra, tartalmi javításokra szorul. A felmerült kifogásokat a szócikk vitalapja részletezi (vagy extrém esetben a szócikk szövegében elhelyezett, kikommentelt szövegrészek). Ha nincs indoklás a vitalapon (vagy szerkesztési módban a szövegközben), bátran távolítsd el a sablont!
Csak akkor tedd a lap tetejére ezt a sablont, ha az egész cikk megszövegezése hibás. Ha nem, az adott szakaszba tedd, így segítve a lektorok munkáját!

A kiesési valószínűség egy adott technikai egység megbízhatóságának az egyik jellemző paramétere. Magyarul szokás még az angol elnevezés után egyszerűen FIT-rátának nevezni (angolul Failure rate, németül Ausfallrate). A kiesési valószínűség a hibák időbeli előfordulásának valószínűségét írja le. Jele a lambda (λ), mértékegysége a FIT (Failure In Time), számszerűen 1 FIT egy kiesést jelöl 109 óránként. A kiesési valószínűséggel fordítottan arányos a meghibásodások közt átlagosan eltelt idő (angolul  mean time between failures, MBTF).

Előfordulása[szerkesztés]

Az eseményidő-elemzésben szereplő kiesési valószínűség a statisztikai elemzésekben szintén leggyakrabban veszélyességi arányként (angolul hazard) kerül alkalmazásra. Értékéből levezethető egy adott esemény (halálos baleset, radioaktív bomlás, árucikk eladása) bekövetkezésének a valószínűsége. A gyakorlatban rendszerek rendelkezésre állásának a vizsgálatakor, biztonsági besorolások minősítése kapcsán szokták alkalmazni.

A kiesési valószínűséggel arányítható, hasonló kiesési illetve élettartammal kapcsolatok jellemzők:

Fürdőkád-görbe[szerkesztés]

A fürdőkád-görbe (angolul Bathtub curve) a FIT-rátával leírt rendszer idővel arányos változási jellemzője. Amikor a kiesési valószínűséget egy rendszer élettartalmának a figyelésére alkalmazzák, a kezdeti és végső (életciklus-végi) görbék a közép-időszakhoz képest jelentősen magasabbak (lásd a példát lent).

DFR, csökkenő kiesési valószínűség[szerkesztés]

A DFR (angolul decreasing failure rate) mérőszám a FIT-ráta idővel csökkenő jellegét (ennek dinamikáját) jellemzi.

Meghibásodások közt átlagosan eltelt idő[szerkesztés]

A meghibásodások közt átlagosan eltelt idő (angolul  mean time between failures) a kiesési valószínűséggel fordítottan arányos mértékegység (1/λ), a meghibásodások közt átlagosan eltelt időt jelöli. [1] További megkötés, hogy ezt a jellemzőt a javítható rendszerek esetén adják meg. Nem javítható rendszereket az MTTF-fel (angolul mean time to failure) szokás jellemezni. Az MTBF-et gyakran években szokás megadni – ennek a hivatalos neve AFR, lásd lent – ilyenkor a FIT és az MTBF közötti váltást a 8766-tal való osztással is ki kell egészíteni (óra per év):

MTBF = 109 / FIT (óra)

MTBF = 109 / FIT / 8766 (év) → ez az AFR

AFR, átlagos élettartam évben megadva[szerkesztés]

Az AFR (angolul Annualized failure rate) az átlagos élettartam, vagy más néven a meghibásodások közt átlagosan eltelt idő években megadva. Sok esetben ezt is egyszerűen MTBF néven jellemzik.[2]

AFR = 109 / FIT / 8766 (év)

AFR = MTBF / 8766 (év)

MTTF, első meghibásodásig átlagosan eltelt idő[szerkesztés]

Az MTTF (angolul mean time to failure) a nem javítható rendszerek technikai jellemzője, számolása megegyezik az MTBF-fel. Fontos jelző az összetett rendszerek tervszerű megelőző karbantartásához.

FIT kiszámolása AFR-ből, MTBF-ből[szerkesztés]

FIT = 109 / 8766 / AFR = 114.077 / AFR (λ, FIT)

FIT = 109 / MTBF (λ, FIT)

A FIT-ráta gyakorlati számítása[szerkesztés]

A példa kedvéért 10.000 villanyégőt folyamatosan üzemeltetünk. A 19. nap végére 9.600 égő még mindig üzemel, és a kiesések száma stabilizálódik a kezdeti – jellemzően kiemelkedően magas – értékek után. Aznap 5 további égő is kiég, azaz ennek a napnak a kiesési rátája 5 / 9600 / 24 = 21,7 * 109 = 21.700 FIT.

Több elemből álló rendszereket az elemek összességének a FIT-rátája jellemez, ha bármely elem kiesése a rendszer működésképtelenségéhez vezet. Belső redundanciákkal rendelkező rendszerek esetén az alacsonyabb FIT-rátájú részrendszer kiesési valószínűségével kell számolni.

Például az alábbi hardver elemek egy villogó lámpa alkatrészei. Bármelyiknek a kiesése a lámpa működésképtelenségéhez vezet:

A FIT-ek összessége 207,65 FIT-et ad eredményként. Ez 549 év átlagos élettartamnak felel meg (MTBF = 109/FIT, AFR = 109 / 207,65 / 8766) Ez az érték csak abban az esetben igaz, ha a akkumulátort rendszeresen cserélik, ugyanis ezeknél eleinte alacsony a hibaarány, de az életkor növekedésével ez hirtelen megemelkedik.

Jegyzetek[szerkesztés]

  1. ↑ J. Lienig, H. Bruemmer. Reliability Analysis. Springer International Publishing. ISBN 978-3-319-55839-4 
  2. ↑ Diving into “MTBF” and “AFR”: Storage Reliability Specs Explained – Inside IT Storage. web.archive.org, 2010. május 1. [2010. május 1-i dátummal az eredetiből archiválva]. (Hozzáférés: 2019. szeptember 20.)

Fordítás[szerkesztés]

  • Ez a szócikk részben vagy egészben az Ausfallrate című német Wikipédia-szócikk ezen változatának fordításán alapul. Az eredeti cikk szerkesztőit annak laptörténete sorolja fel. Ez a jelzés csupán a megfogalmazás eredetét és a szerzői jogokat jelzi, nem szolgál a cikkben szereplő információk forrásmegjelöléseként.
A lap eredeti címe: „https://hu.wikipedia.org/w/index.php?title=Kiesési_valószínűség&oldid=26297501”