Fájl:Silicon dislocation orientation 100 mag 500x.png

Az oldal más nyelven nem érhető el.
A Wikipédiából, a szabad enciklopédiából

Silicon_dislocation_orientation_100_mag_500x.png(768 × 576 képpont, fájlméret: 658 KB, MIME-típus: image/png)

Összefoglaló

Leírás

Title: Dislocations in Si crystal, orientation 100

  • Desc: Image of dislocations in Si crystal made using interference microscope with 500x magnification. Crystal orientation can be determined by the elliptical shape of dislocations.
  • Author: Twisp
  • Date: 24.08.2005
Dátum 2005. szeptember 13. (eredeti feltöltésének dátuma)
Forrás Nincs megadva géppel olvasható forrás. Feltételezhetően saját munka (a szerzői jogi adatok alapján).
Szerző Nincs megadva géppel olvasható szerző. Feltételezhetően Twisp (a szerzői jogi adatok alapján).

Licenc

Public domain Én, a szerző, ezt a művemet ezennel közkinccsé nyilvánítom. Ez a világ minden részén érvényes.
Egyes országokban ez jogilag nem lehetséges. Ha így van, akkor:
Jogot adok bárkinek, hogy bármilyen célból, feltétel nélkül használhassa ezt a fájlt, kivéve a törvény által kötelezően előírt feltételeket.

Képaláírások

Adj meg egy egysoros magyarázatot arról, hogy mit mutat be ez a fájl

A fájl által ábrázolt elemek

mű tárgya

13. szeptember 2005

Fájltörténet

Kattints egy időpontra, hogy a fájl akkori állapotát láthasd.

Dátum/időBélyegképFelbontásFeltöltőMegjegyzés
aktuális2005. szeptember 13., 02:12Bélyegkép a 2005. szeptember 13., 02:12-kori változatról768 × 576 (658 KB)Twisp* Title: Dislocations in Si crystal, orientation 100 * Desc: Image of dislocations in Si crystal made using interference microscope with 500x magnification. Crystal orientation can be determined by the elliptical shape of dislocations. * Author: Twisp * D

Az alábbi lap használja ezt a fájlt:

Globális fájlhasználat

A következő wikik használják ezt a fájlt: